蔡司推出双束电镜Crossbeam 550 Samplefab，助力半导体行业迈向高效制样时代

蔡司新品发布

   蔡司双束电镜Crossbeam 550 Samplefab 作为一款专为半导体行业TEM样品制备开发的高端聚焦离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM），蔡司双束电镜Crossbeam 550 Samplefab提供优异的灵活性、自动化功能和用户友好设计，帮助半导体行业的样品制备更加简便高效。